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    热敏电阻电流冲击特性(I-t)测试系统

    一 、概述
    本热敏电阻电流冲击特性(I-t)测试系统利用电源模拟 、波形采集 、I/O控制系统等组成热敏电阻电流冲击特性(I-t曲线)全自动测试系统 ,该系统能同时测量10路热敏电阻的电流-时间特性曲线 。具有效率高 、操作简单 、自动切换通道 、自动记录数据 、自动分析等优点 。
    当给PTC热敏电阻元件两端施加电压后 ,由于常温下元件的电阻值小 ,所以会产生一个较大的冲击电流 。经过一定时间后 ,焦耳热使元件达到设定的开关温度 。随着热敏电阻的温度升高 ,电阻值增大 ,电流下降 ,从而起到限制和稳定电流的作用 。
    电流-时间特性是指PTC热敏电阻在施加电压的过程中 ,电流随时间变化的特性 。开始加电瞬间的电流称为起始电流 ,达到热平衡时的电流称为残余电流 。下图为典型的电流-时间特性曲线 。

    二 、系统功能
    1. 系统测试功能 :采用递增模式测试多个被测件 ,读取到I-t曲线 ,系统可同时做到多通道 、多循环测试 。
    2. 系统分析功能 :通过实时采集到的波形数据或读取历史数据 ,可以分析得到最大冲击电流 ,50%最大冲击电流 ,衰减时间 ,25℃阻值 ,功耗 ,恢复时间等数据 。
    3. 系统扩展功能 :测控可以根据用户的要求预置其它分析公式 ,可以根据不同的外部参数进行更多功能的数据分析和计算 。
    4. 系统结构示意图如下 :

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